X線結晶解析> CrystalClear1.3> データ収集

回折データの収集

6. “Strategy”

 測定の際の角度領域等を決定する。
 *“Advanced”タブのパラメーターはdefault値のままで良い。

“Main”タブ

以上、確認の上、「OK」。
 ⇒ 推奨される測定(角度)領域と完全性が表示される。
*結果として重要なのは、Start Angleである。

(注) 表示された結果はIndex Spotsで決定された結晶系も基づくものであり、推奨される測定角度領域が十分かどうかは疑問が残る。
 Indexingに不安がある場合、は推奨される測定角度領域にこだわらず180°分測定する(次「7. Collect Images」参照)。

7. “Collect Image”

 Strategyの結果を基に測定領域を決定し、回折データを収集する。
(注) Collect Imageを実行する前に、Heパス用ガスの残量、サンプルに付着する霜の発生に注意。

以上、確認の上、「Run」。
 ⇒ 回折データの測定開始。
 *終了に十数時間〜。


ここまでの注意点及び改善点3

 Collect Imageでは10時間以上かけて撮影が行われるため、X線照射で結晶が壊れ時間と共に回折像が乱れることがある。
 撮影終了後に画像を確認し、回折パターンの良くないものは次の操作「8. Integrate Reflections」で除くことを検討する。

 なお、収集される画像データは膨大な容量(180°分360枚の画像を収集した場合6Gを超える)となる。
 それらは測定終了後、DVD-RAM等の他の記憶媒体に保存する等し、HDDの空き容量の確保を心がける。


 データ収集が終了したら、次の「回折データの処理 」へ。

 *回折データ収集が終わったら、回折データの処理と平行して、X線回折装置の停止操作 (スケジュール「X線回折装置の停止」)が可能。



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